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Zhuzhou Sanxin Cemented Carbide Manufacturing Co., Ltd

반도체 테스트용 니켈 도금 텅스텐 카바이드 바늘

제품 상세 정보:
원래 장소: 주조우, 중국
브랜드 이름: Sanxin
인증: ISO9001
모델 번호: SX1407
결제 및 배송 조건:
최소 주문 수량: 2
배달 시간: 5-25days
지불 조건: L/C, T/T, Western Union
  • 상세 정보
  • 제품 설명

상세 정보

품목 이름: 텅스텐 니들 캐릭터: 내마모성, 내식성
경도: HRA 90-92 이점: 높은 마모 저항력, 긴 수명
모양: 탄화물 그레이드: Yg6, Yg8, Yg10 등
표면 처리: 잘 갈리고 광택이 난다 서비스: ODM,OEM,OEM&ODM
품질 등급: K30, YG10X, K40, P10... 주요 기능: 내장 저항성
용인: H6
강조하다:

니켈 도금 텅스텐 카바이드 바늘

,

반도체 테스트 텅스텐 핀

,

보증이 있는 텅스텐 카바이드 바늘

제품 설명

미크론 등급 전도성 개척자 니켈 도금 맞춤형 텅스텐 카바이드 바늘


0.02Ω의 초저 접촉 저항과 HV500 경도 코팅을 갖춘 전기 도금 니켈 층을 갖춘 정밀 프로브는 일반 금도금 바늘의 마모 및 산화 문제를 극복하고 반도체 테스트 및 의료 전극 분야에서 마이크로 암페어 수준 신호의 감쇠 제로 전송을 달성합니다.


사양 매트릭스:


매개변수 표준값 최고의 정확도 테스트 표준
직경 범위 Φ0.1-2.0mm Φ0.05mm(마이크로니들 레이저 직경 게이지
코팅 두께 5±0.5μm ±0.2μm XRF 분광계
직진도 ≤0.003mm/30mm 0.001mm/30mm VDI 2617
코팅 경도 HV500±50 완벽하게 테스트된 나노인덴터 ISO 14577
접촉 저항 0.02Ω±0.005Ω 4와이어 측정 IEC 60512

참고: 위 데이터는 참고용일 뿐입니다. 맞춤화를 원하시면 당사에 문의하십시오.


성능상의 이점:


- 접촉 저항: 0.02-0.05Ω (스테인리스 핀보다 90% 낮음)
- 마모 수명: >1,000,000 플러그인/플러그 주기
- 내식성: 96시간 염수 분무 테스트 통과


애플리케이션:


반도체 테스트
- 웨이퍼 레벨 프로브 카드(0.1mm Φ 마이크로니들 어레이)
- BGA 패키지 테스트(50μm 피치 연속성)
- 3세대 GaN 반도체 소자 테스트(최대 400°C의 고온 저항)


의료 전자
- 이식형 신경전극(생체적합성 인증)
- 혈당 모니터 프로브(항체 부식 방지)
- 내시경 접점(>500 멸균 주기)


정밀산업
- PCB 플라잉 프로브 테스트(0.3mm 연속성)
- 신에너지 배터리 프로브(전해질 부식 방지)
- 마이크로 커넥터(삽입 및 제거력 ≤0.5N)


반도체 테스트용 니켈 도금 텅스텐 카바이드 바늘 0


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